İkili Yanıt Yüzey Modellerine Yeni bir Dayanıklı Tahmin Yaklaşımı
Proje no. 32502 · Durum: Kapanmış (Yayın bekleniyor) · 2024
Özet
<p>Dayanıklı parametre tasarımı, sistemlerin optimum çalışma koşullarını belirlemek için kullanılan yöntemlerden biridir. İkili yanıt yüzey modellerinde genellikle kullanılan yöntemler normal dağılım varsayımına dayanmaktadır. Bu nedenle, süreç ortalama ve varyans yanıtları veri dağılımına çok duyarlı olduğundan, normal olmayan bir yanıt modellemesi için geleneksel normallik varsayımlarının kullanılması, genellikle kalite iyileştirme tekniklerinin başarısız olmasına sebebiyet vermektedir.</p><p>Çarpık dağılan veriler için normallik varsayımı altında bir amaç fonksiyonunun optimize edilmesi, yanıltıcı ve optimal değerlerden uzakta konumlanan çalışma koşullarıyla sonuçlanabilir. Bu durum, üretim aşamasında kalitesiz ürünler gibi bir bozulma zinciri yaratabilmektedir. </p><p>Normallikten sapma olduğu durumlarda, ortalama ve varyans yanıt yüzey modellerinde dayanıklı tahmin edicilerin kullanılması son yıllarda oldukça popülerdir.</p><p>Bu çalışmada, çarpık verilere odaklanılmakta olup önerilen yaklaşım ile yanıt yüzey modellerinde güven aralığı ile modelleme yapılması durumunda, standart sapma yerine BS82 M dayanıklı tahmin edicisi ile literatürde yer alan modellerden daha dayanıklı sonuçlar üretilmesi hedeflenmiştir.</p><p>Önerilen yaklaşımın temel avantajı deneysel veri dağılımının çarpık yapısından dolayı dayanıklı bir çözüm sunmasıdır. </p><p>Önerilen yaklaşımın geçerliliğinin ifade edilmesi hususunda, yeni elde edilecek model, literatür de sıklıkla ele alınan deney verileri üzerinde çalışılacaktır. Daha dayanıklı sonuçlar üretmesi planlanan bu yeni tasarım, bir üretim tesisinin kalite sürecinde toplanan veriler ile gerçek hayat verisi üzerinde de çalıştırılarak firmanın daha optimum koşullarda çalışması hususunda elde edilen bulguların paylaşılması da hedeflenmiştir.</p><p><br></p>