YENI NESIL NÜKLEIK ASITLER ILE TEK NOKTA MUTASYON TAYININE YÖNELIK EMPEDIMETRIK BIR YÖNTEM
Intellectual property > Patent · 2021
Authors: Kadriye Arzum ERDEM GÜRSAN, Ece Ekşin Çerkezoğlu
Patent, CHAPTER C Chemistry; Metallurgy, Patent, Initial Registration