YENI NESIL NÜKLEIK ASITLER ILE TEK NOKTA MUTASYON TAYININE YÖNELIK EMPEDIMETRIK BIR YÖNTEM

Fikri mülkiyetler > Patent · 2021

Yazarlar: Kadriye Arzum ERDEM GÜRSAN, Ece Ekşin Çerkezoğlu

Patent, Bölüm C Kimya; Metalurji, İncelemeli, İlk Tescil

Detay görüntüle